ExLibris header image
 
Contains information about title and source of a journal
Källa:

An introduction to time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science [1-68174-088-5] Fearn, Sarah

år:2015
Contains list of services for current record

Basic services
Vill du beställa en artikelkopia?
Användare som var intresserade av denna artikel tittade även på följande:
  1. Cox, David Christopher C. Introduction to focused ion beam nanometrology. : IOP Publishing Ltd, 2015.: 1-84. Länk till SFX för denna post
  2. Cho, D. Organ printing. , 2015. Länk till SFX för denna post
  3. Baskal, S. Physics of the Lorentz group. , 2015. Länk till SFX för denna post
  4. Paternò, A. Physics and Applications of the Josephson Effect. , 1982. Länk till SFX för denna post
  5. Yao, N. FOCUSED ION BEAM SYSTEMS: BASICS AND APPLICATIONS. , 2007. Länk till SFX för denna post
  6. Williams, Jeffrey Huw H. Order from force : a natural history of the vacuum. : Morgan & Claypool Publishers,, 2015. Länk till SFX för denna post
  7. Karimi, M. Smart internal stimulus-responsive nanocarriers for drug and gene delivery. , 2015. Länk till SFX för denna post
  8. Egelman, Edward H. H. Atomic Force Microscopy. Comprehensive Biophysics (2012): 111-143. Länk till SFX för denna post
  9. MACMULLIN, RB. CHARACTERISTICS OF POROUS BEDS AND STRUCTURES. AIChE journal 2.3 (1956): 393-403. Länk till SFX för denna post
  10. Linz, U. Ion Beam Therapy : Fundamentals, Technology, Clinical Applications. , 2012. Länk till SFX för denna post
Visa fler…
Visa färre…


© 2024 SFX by Ex Libris Inc. | Cookie Policy
CrossRef Aktiverad